On the dynamic resistance and reliability of phase change memory

B. Rajendran, M. H. Lee, M. Breitwisch, G. W. Burr, Y. H. Shih, R. Cheek, A. Schrott, C. F. Chen, M. Lamorey, E. Joseph, Y. Zhu, R. Dasaka, P. L. Flait, F. H. Baumann, H. L. Lung, C. Lam